搜索 分析 新世界 法规 图书 网址导航 更多
高级用户登录 | 登录 | |

集成电路全速电流测试方法
有权
阅读授权文献

申请号:03125125.0 申请日:2003-05-21
摘要:本发明涉及集成电路测试方法,其步骤包括:第一步,确定测试频率,第二步确定测试波形模式,第三步,确定可测试性测度及其阈值,第四步,测试波形生成,第五步,运行测试。本发明也可以检测一些用逻辑测试方法不可检测的故障,即所谓的冗余故障。测试效率高,适应于大批量集成电路芯片生产线的需要;不需要特别高指标的昂贵的测试仪;故障覆盖率高,适应于国防、航空航天等高可靠芯片的需求。本发明提供了对于高达几个GHz的高频数字CMOS集成电路,直接用其工作频率进行全速电流测试的方法,而测试周期可以灵活地根据测试仪的测试速度而定,可以慢到毫秒级。
申请人: 中国科学院计算技术研究所
地址: 100080北京市中关村科学院南路6号
发明(设计)人: 闵应骅 邝继顺 牛小燕
主分类号: G01R31/28
分类号: G01R31/28 H01L21/66
  • 法律状态
2006-02-01  授权
2003-12-31  
2003-10-22  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1.一种全速电流测试的方法,其步骤包括: 第一步(S1),确定测试频率; 第二步(S2),确定测试波形模式,采用的全速电流测试波形由两个 向量交替输入,即 v1,v2,v1,v2,v1,v2,…… 其中,v1和v2是两个原始输入向量,即在第一时钟周期输入v1,在第 二时钟周期输入v2,在第三时钟周期再输入v1,当v1→v2时,产生瞬 态电流(IDDT),达到稳态后,只有静态电流(IDDQ),当v2→v1时, 又产生瞬态电流(IDDT),达到稳态后,只有静态电流(IDDQ),多次 重复后,测试仪能区别正常电路和故障电路; 第三步(S3):确定可测试性测度及其阈值,采用逻辑加权上跳变数 估计,定义可测试性测度如下: Δ
公开号  1450357
公开日  2003-10-22
专利代理机构  中科专利商标代理有限责任公司
代理人  周国城
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
进入国家日期