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测量装置和对应方法
无权-视为撤回

申请号:03120836.3 申请日:2003-03-20
摘要:已知的频谱分析仪能够完成与有一个或者两个载波信号的输入信号相关的多载波功率(Multi-Carrier Power,MCP)测量。然而,为了完成MCP测量,每个载波信号的功率不得不分别测量,结果当两个以上载波信号要被测量时,麻烦的测量过程就容易导致错误。通过允许频谱分析仪(100)的使用者配置载波频率的每个潜在位置,本发明解决了这些问题,因而使得频谱分析仪对存在于输入信号中的每个载波信号能完成与之相关的MCP测量。因此当测量两个以上载波信号时就获得了一种更有效、更准确的测量方法。
申请人: 安捷伦科技有限公司
地址: 美国加利福尼亚州
发明(设计)人: 史蒂文·柏尔
主分类号: H04B17/00
分类号: H04B17/00
  • 法律状态
2009-07-29  发明专利申请公布后的视为撤回
2005-06-08  
2003-10-22  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1.一种测量装置,包括频谱分析单元(100),该单元有接收待测量输 入信号的输入端,该输入信号包含位于预定频带内的载波信号;其特征在 于:所述频谱分析单元(100)被设置以存储一套包含频带内载波信号位 置的参数,并使用这套参数测量与所述载波信号相关的数值。
公开号  1450741
公开日  2003-10-22
专利代理机构  北京东方亿思专利代理有限责任公司
代理人  杜娟
颁证日  
优先权  2002.4.6 EP 02252495.3
国际申请  
国际公布  
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