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利用反复的高速偏振扰频测量偏振依赖损耗的装置和方法
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申请号:02800671.2 申请日:2002-02-07
摘要:本发明公开了一种测量光学设备插入损耗变化量的装置和方法,该损耗取决于入射光的偏振状态,即偏振依赖损耗。周期地受全部偏振状态控制的入射光通过偏振扰频器经过试验光学设备,该扰频器包括压电元件式光纤双折射调制器,同时光辐射探测器测量通过的光的强度,其中被平均以进行双折射调制的测量强度值具有恒定周期,于是由该周期的最大功率与最小功率之比而计算出偏振依赖损耗。利用双折射调制器缩短了测量时间,减少了外界干扰对入射试验光学元件内的入射光的影响或外界干扰的出现几率,从而可以精确测量偏振依赖损耗。
申请人: 图南系统株式会社
地址: 韩国大田市
发明(设计)人: 高年完 李峰玩 金正元
主分类号: G02B5/30
分类号: G02B5/30
  • 法律状态
2005-08-10  授权
2004-04-14  
2003-11-26  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种测量偏振依赖损耗的装置,该装置包括: (a)光源; (b)将所述光源照射的光转换成偏振光的起偏器; (c)用于调制频率为F的所述偏振光的偏振状态的偏振扰频器,所述 偏振扰频器包括: (c-1)具有至少三个圆柱形压电元件和无间隔地分别缠绕在所述压 电元件外壁上的光纤的光纤双折射调制器,以及 (c-2)与每个所述光纤双折射调制器的普通时钟同步的,用于向所述 每个光纤双折射调制器施加频率为预定频率F的质数的整数倍的AC电压 的AC电压源; (d)当偏振扰频器的输出光经过试验中的物体时,用于检测该物体承 受的输出光的光功率的光电检测器; (f)与普通时钟同步的,用于提供具有1/F周期的输出光的强度轮廓的 ADC;和 (g)用于将从所述ADC输出的光的周期强度轮廓平均以抑制各测量 中夹杂的干扰的数字信号处理单元。
公开号  1459037A
公开日  2003-11-26
专利代理机构  北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人  刘国平
颁证日  
优先权  2001.3.16 KR 2001-13540
国际申请  PCT/KR02/00195 2002.2.7
国际公布  WO02/077680 英 2002.10.3
进入国家日期  2002.11.15