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半导体集成电路器件
无权-未缴年费

申请号:02123143.5 申请日:2002-06-19
摘要:集成电路具备:把90度相位差赋予本地信号的第1移相器;使本地信号和接收信号混频的第1和第2混频电路;把90度相位差赋予第1和第2混频电路的输出信号,输出第1和第2信号的第2移相器;进行第1和第2信号之间的加法和减法运算的加法器和减法器;将减法器输出信号的强度和基准强度进行比较的信号强度检测器;根据该比较结果,使第1和第2混频电路中的任何一方,或使第1和第2混频电路中的任何一方与第1移相器的动作停止的电源控制电路。
申请人: 株式会社东芝
地址: 日本东京都
发明(设计)人: 滨田基嗣 石黑仁挥
主分类号: H01L27/00
分类号: H01L27/00
  • 法律状态
2010-09-01  未缴年费专利权终止IPC(主分类):H04B 1/28申请日:20020619授权公告日:20061206
2006-12-06  授权
2003-12-31  
2003-10-22  公开
2002-09-18  
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1.一种半导体集成电路器件,具备: 把90度的相位差赋予本地信号的第1移相器; 使用上述第1移相器赋予相位差的上述本地信号和接收信号进行 混频的第1和第2混频电路; 把90度的相位差赋予上述第1和第2混频电路的输出信号,输出 被赋予该90度相位差的第1和第2信号的第2移相器; 进行上述第1信号和上述第2信号之间的加法运算的加法器; 进行上述第1信号和上述第2信号之间的减法运算的减法器; 对上述减法器的输出信号的强度和基准强度进行比较的信号强度 检测器; 根据上述减法器的输出信号的强度和上述基准强度之间的比较结 果,使上述第1和第2混频电路中的任何一方,或使上述第1和第2 混频电路中的任何一方和上述第1移相器停止动作的电源控制电路。
公开号  1450641
公开日  2003-10-22
专利代理机构  中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人  王永刚
颁证日  
优先权  2002.4.10 JP 108081/2002
国际申请  
国际公布  
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