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基于边界扫描结构的器件功能自动测试方法
无权-视为撤回

申请号:02117678.7 申请日:2002-05-14
摘要:本发明公开了一种基于边界扫描结构的器件功能自动测试方法,该方法首先获取被测试器件功能的逻辑关系,根据该逻辑关系确定测试矢量输入文件和测试正确响应文件,再利用测试矢量输入文件为被测试器件测试激励输入引脚赋值,并将所述引脚的测试赋值施加到被测试器件的芯片内核电路上,最后扫描被测试器件的测试响应输出引脚,获取被测试芯片的响应数据,将上述测试响应数据与测试正确响应文件进行比较,获得测试结果。采用上述方案对被测试器件进行功能测试成本低、效率高,操作简单方便。
申请人: 华为技术有限公司
地址: 517057广东省********(隐藏)
发明(设计)人: 李颖悟 游志强 兰波 徐光晓
主分类号: G06F11/26
分类号: G06F11/26
  • 法律状态
2006-03-08  
2004-02-04  
2003-11-26  公开
2002-08-07  
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种基于边界扫描结构的器件功能自动测试方法,包括: (1)获取被测试器件功能的逻辑关系,根据该逻辑关系确定测试矢量 输入文件和测试正确响应文件; (2)利用测试矢量输入文件为被测试器件测试激励输入引脚赋值,并 将所述引脚的测试赋值施加到被测试器件的芯片内核电路上; (3)扫描被测试器件的测试响应输出引脚,获取被测试芯片的响应数 据,将上述测试响应数据与测试正确响应文件进行比较,获得测试结果。
公开号  1458592A
公开日  2003-11-26
专利代理机构  北京集佳专利商标事务所
代理人  逯长明
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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