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测量不同材料界面剂量分布的多层平板电离室
无权-视为撤回

申请号:02114495.8 申请日:2002-04-05
摘要:本发明涉及一种测量不同材料界面剂量分布的多层平板电离室。在现有技术中,能量为30-100keV X射线能谱穿透力强,不易屏蔽,由于界面到均匀块介质之间的过渡区中能量沉积仅涉及窄小的几何尺度,实验测试比较困难;在物理上,它不但涉及到光子对电子的能量转移,而且与电子的产生、散射和吸收引起的通量增减密切相关。为测量其剂量增强效应,本发明设计一种用高纯铝箔作为电极板的电离室,其铝箔作为电极板与有机玻璃环相互间隔,设置在铝制的壳体内,而两层端极板为活动结构,位于电离室的两侧;通过本发明可测量出X射线对不同材料界面剂量分布,从而能了解X射线对一些器件造成的损伤增强因子。
申请人: 西北核技术研究所
地址: 710024陕西省西安市69信箱16分箱
发明(设计)人: 郭红霞 吴国荣 韩福斌 陈雨生 周辉
主分类号: G01T1/185
分类号: G01T1/185
  • 法律状态
2006-02-08  
2004-10-27  
2003-10-22  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种测量不同材料界面剂量分布的多层平板电离室,包括内部组件、前 后两层端极板和壳体,其特征在于:所述的内部组件包括多层电极板(1)、多 层有机玻璃环(2)等,在多层有机玻璃环(2)上设置有通气孔槽(3)和铜线 引孔槽(4),所述的多层有机玻璃环(2)的通气孔槽(3)和铜线引孔槽(4) 对齐并重叠放置;所述的多层有机玻璃环(2)之间设置电极板(1),电极板(1) 为超薄高纯铝箔,其贴于有机玻璃环(2)上,并与有机玻璃环上的通铜线引孔 槽(4)内连出导线相连。
公开号  1450363
公开日  2003-10-22
专利代理机构  西安新思维专利事务所有限公司
代理人  李罡
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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