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三坐标测量方法及其测量装置
无权-视为撤回

申请号:02113353.0 申请日:2002-02-09
摘要:一种三坐标测量方法及其装置,利用高平面度的平板和高垂直度的正立方体作为测量基准,把被测物体固定在立方体上,被测物体随立方体在平板上三维翻滚,建立一个三维互相垂直的坐标体系,在一维测高量具和平面移动的配合下,把被测物体的三维尺寸和几何形状计量变成为一个测高和测量平行度的问题。本发明构思巧妙、结构简单、制造成本低,还具有测量功能多、精度高、使用方便等优点,尤其是价格便宜,对操作者技能要求不高,特别适合中小型工厂、机械加工车间和实验室选用。
申请人: 朱文
地址: 400044重庆市********(隐藏)
发明(设计)人: 杨学智 朱文
主分类号: G01B5/02
分类号: G01B5/02
  • 法律状态
2005-10-26  
2003-08-20  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、三坐标测量方法,其特征在于:利用高平面度的平板和高垂直度的正立 方体作为测量基准,把被测物体固定在正立方体的一个平面上,被测物体随正 立方体在平板上三维翻滚,建立一个三维互相垂直的坐标体系,在一维测高量 具和平面移动的配合下,把被测物体的三维尺寸和几何形状的计量变成为一个 测高和测量平行度的问题。
公开号  1436999A
公开日  2003-08-20
专利代理机构  重庆创新专利事务所有限公司
代理人  张先芸
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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