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一种综合测量液晶器件参数的装置及方法
无权-未缴年费

申请号:00110180.3 申请日:2000-03-07
摘要:本发明涉及一种对测量液晶器件参数装置及方法的改进。它包括光源、起偏器、样品、转台、补偿器、检偏器、镜头、探测器、计算机和液晶驱动装置。根据液晶折射率和指向矢分布,用理论值和测量值迭代拟合得到液晶层厚度、预倾角和扭曲角。本发明打破现有技术只能偏振光测量、只能非偏振光测量、只能单色光测量、只能白光测量和入射角单一的局限,扩展已有装置的测量能力,一台装置就能够满足液晶器件关键参数的测量需要。
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
地址: 130022吉林省********(隐藏)
发明(设计)人: 黄锡珉 马凯 于涛 王宗凯 邵喜斌 夏丽娜 张春林 凌志华 马仁祥 荆海
主分类号: G01N21/21
分类号: G01N21/21
  • 法律状态
2007-05-09  
2004-08-25  授权
2002-05-29  
2001-09-12  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种综合测量液晶器件参数的装置,包括光源1、被测样品3、 测量转台4、光学镜头7、计算机系统10和液晶器件驱动装置11,其 特征在于:测量转台4的水平旋转轴线和起偏器2、相位补偿器5、 检偏器6、光学镜头7、探测器8、9的光轴与光源1的光轴重合;相 位补偿器5、检偏器6、光学镜头7和探测器8、9的竖直旋转轴线与 测量转台4的竖直旋转轴线重合;探测器8、9的输出信号连接到计 算机系统10;起偏器2、相位补偿器5和检偏器6可切换进入或移出 光路。
公开号  1312466A
公开日  2001-09-12
专利代理机构  中国科学院长春专利事务所
代理人  梁爱荣
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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