G11C 静态存储器_IPC国际专利分类

11/00

以使用特殊的电或磁存储元件为特征而区分的数字存储器;为此所用的存储元件

13/00

特征在于使用不包括在G11C 11/00，G11C 23/00或G11C 25/00各组内的存储元件的数字存储器

13/02

.使用其操作取决于化学变化的存储元件的数字存储器

13/04

.使用光学元件的数字存储器

13/06

..应用磁光元件

14/00

按照当电源掉电时用于后备的具有易失及非易失存储特性的单元装置的特征区分的数字存储器

15/00

所存储的信息是由一个或多个被写入的特征部分所组成并且该信息是通过搜索一个或多个这些特征部分进行读出的数字存储器，即相关存储器或内容编址存储器

15/02

.应用磁性元件的

15/04

.应用半导体元件的

15/06

.应用低温元件的

16/00

可擦除可编程序只读存储器

16/02

.电可编程序的

16/04

..使用可变阀值晶体管的，例如，FAMOS

16/06

..辅助电路，例如，用于写入存储器的

16/08

...地址电路;译码器;字线控制电路

16/10

...编程或数据输入电路

16/12

....编程电压开关电路

16/14

....用于电擦除的电路，例如擦除电压开关电路

16/16

.....用于擦除块的，例如，阵列、字、组

16/18

....用于光擦除的电路

16/20

....初始化;数据预置;芯片识别

16/22

...防止对存储单元的未授权或意外访问的安全或保护电路

16/24

...位线控制电路

16/26

...读出或读电路;数据输出电路

16/28

....应用差分读出或基准单元，例如，哑单元

16/30

...供电电路

16/32

...定时电路

16/34

...编程状态的确定，例如，阈值电压、过编程或欠编程、保留

17/00

只可一次编程的只读存储器;半永久存储器，例如，手动可替换信息卡片的

17/02

.应用磁性或电感性元件的，

17/04

.应用电容性元件的

17/06

.应用二极管元件的

17/08

.应用半导体器件的，例如，双极性元件

17/10

..在制造过程中用耦合元件的预定排列确定其存储内容的，例如掩膜式可编程序的ROM

17/12

...应用场效应器件的

17/14

.通过有选择地建立、断开或修改能永久变更耦合元件状态的连接链路确定其存储内容的，例如，PROM

17/16

..应用电可熔链路的

17/18

..辅助电路，例如，用于写入存储器的

19/00

所存储的信息是步进移动的数字存储器，例如，移位寄存器

19/02

.应用磁性元件的

19/04

..应用单孔磁芯或磁环的

19/06

..应用多孔或多磁环结构的，例如，多孔磁芯存储器

19/08

..应用平面结构薄膜的

19/10

..应用圆棒薄膜的;用磁扭线的

19/12

.在谐振电路中应用非线性电抗器件的

19/14

.应用与有源元件相组合的磁性元件的，例如，与放电管、半导体元件相组合的

19/18

.应用电容器作为各级主要元件的

19/20

.应用放电管的

19/28

.应用半导体元件的

19/30

.应用光—电器件的，即光发射器件和电耦合或光耦合的光电器件

19/32

.应用超导元件的

19/34

.应用带有由例如电压、电流、相位、频率分级表示的两个以上稳定状态的存储元件的

19/36

..应用半导体元件的

19/38

.二维移位寄存器，例如水平和垂直的

21/00

所存储的信息是循环流动的数字存储器

21/02

.应用机电延迟线的，例如，应用汞槽

23/00

以影响存储的机械配件的运动为特征的数字存储器，例如，使用滚珠的;为此所用的存储元件

25/00

按使用流动介质为特征的数字存储器;为此所用的存储元件

27/00

电模拟存储器，例如，用于瞬时值存储的

27/02

.取样—保持装置

27/04

.移位寄存器

29/00

存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器

29/02

.损坏的备用电路的检测或定位，例如，损坏的刷新计数器

29/04

.损坏存储元件的检测或定位

29/06

..加速测试

29/08

..功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试

29/10

...测试算法，例如，存储扫描算法;测试码形，例如棋盘码形

29/12

...用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置

29/14

....控制逻辑的实现，例如，测试模式解码器

29/16

.....用微程序控制单元，例如，状态机

29/18

....地址形成装置;访问内存装置，例如，寻址电路的零部件

29/20

.....用计数器或线性反馈位移寄存器

29/22

.....访问串行存储器

29/24

.....访问额外单元，例如，虚拟单元或冗余单元

29/26

.....访问多个阵列

29/28

......关联的多个阵列，例如，多位阵列

29/30

.....访问单阵列

29/32

......串行访问;扫描测试

29/34

......同时访问多位

29/36

....数据生成装置，例如，数据反相器

29/38

....响应验证装置

29/40

.....用压缩技术

29/42

.....用纠错码或奇偶校验检查

29/44

....错误指示或识别，例如，修复

29/46

....测试触发逻辑

29/48

...专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如，用直接存储器存取或用辅助存取路径

29/50

..容限测试，例如，竞争、电压或电流测试

29/52

.存储器内量保护;存储器内量中的错误检测

29/54

.设计检测电路的装置，例如，可测试性设计工具

29/56

.用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备;所用接口

5/00

包括在G11C 11/00组中的存储器零部件

5/02

.存储元件的排列，例如，矩阵形式的排列

5/04

..存储元件的支架;存储元件在支架上的安装或固定

5/05

...矩阵中磁芯的支撑

5/06

.存储元件电的互相连接的装配，例如，通过布线的互连

5/08

..用于磁性元件的互连

5/10

..用于电容器的互连

5/12

.用于存储元件互连的设备或方法，例如磁芯的穿线

5/14

.电源装置

7/00

数字存储器信息的写入或读出装置

7/02

.有避免寄生信号的装置的

7/04

.有避免由于温度效应引起干扰的装置的

7/06

.读出放大器;相关的电路

7/08

..其控制

7/10

.输入/输出数据接口装置，例如，I/O数据控制电路，I/O数据缓冲器

7/12

.位线控制电路，例如，用于位线的驱动器、增强器、上拉电路、下拉电路、预充电电路、均衡电路

7/14

.哑单元管理;读取基准电压发生器

7/16

.采用包括模拟/数字转换器、数字存储器和数字/模拟转换器的装置以数字存储的方式存储模拟信号

7/18

.位线组织;位线布局

7/20

.存储器单元初始化电路，例如当加电或断电时的存储器清除，潜像存储器

7/22

.读写定时或计时电路;读写控制信号发生器或管理

7/24

.存储器单元安全或保护电路，例如，用于防止无意中的读或写的装置;状态单元;测试单元

8/00

数字存储器中用于地址选择的装置

8/02

.应用选择矩阵的

8/04

.采用时序寻址器件的，例如，移位寄存器、计数器寄存器的入G06F 5/06;采用用于通过对其顺序进行操作来处理数字数据的后进先出寄存器的入G06F 7/00)

8/06

.地址接口装置，例如，地址缓冲器

8/08

.字线控制电路，例如，用于字线的驱动器、增强器、上拉电路、下拉电路、预充电电路

8/10

.译码器

8/12

.组选择电路，例如，用于存储器块选择、芯片选择、阵列选择

8/14

.字线组织;字线布局

8/16

.多级存取存储器阵列，例如，通过至少两个独立的寻址线组寻址一个存储器单元

8/18

.地址定时或计时电路;地址控制信号发生或管理，例如，用于行地址选通或列地址选通信号的

8/20

.地址安全或保护电路，即，用于防止未授权或意外访问的装置

99/00

本小类其他各组中不包含的技术主题