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分类号为 G11C29/18* 的最新专利
| 2009年01月 公开 | |||||||||||
| 200810134295 存储装置读取方法、系统和存储装置测试设备 | |||||||||||
| 2008年10月 公开 | |||||||||||
| 200810091075 半导体器件和数据处理系统 | |||||||||||
| 2008年06月 公开 | |||||||||||
| 200610147328 内置非挥发性存储器芯片的测试模式实现方法 | |||||||||||
| 2008年01月 公开 | |||||||||||
| 200710108599 半导体器件 | |||||||||||
| 200610170353 存储器测试的方法 | |||||||||||
| 2007年08月 公开 | |||||||||||
| 200710006984.4 半导体存储装置 | |||||||||||
| 2007年06月 公开 | |||||||||||
| 200610002790.2 具有测试功能的半导体集成电路及制造方法 | |||||||||||
| 2006年07月 公开 | |||||||||||
| 200510128583.7 借助于位掩码来测试半导体芯片的方法 | |||||||||||
