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分类号为 G11C29/18* 的最新专利
2009年01月 公开
200810134295 存储装置读取方法、系统和存储装置测试设备
2008年10月 公开
200810091075 半导体器件和数据处理系统
2008年06月 公开
200610147328 内置非挥发性存储器芯片的测试模式实现方法
2008年01月 公开
200710108599 半导体器件
200610170353 存储器测试的方法
2007年08月 公开
200710006984.4 半导体存储装置
2007年06月 公开
200610002790.2 具有测试功能的半导体集成电路及制造方法
2006年07月 公开
200510128583.7 借助于位掩码来测试半导体芯片的方法