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分类号为 G11C29/12* 的最新专利
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| 2009年01月 公开 | |||||||||||
| 200810045810 存储器内建自测试方法 | |||||||||||
| 2008年10月 公开 | |||||||||||
| 200710097917 内建备份元件分析器以及备份元件分析方法 | |||||||||||
| 200810091075 半导体器件和数据处理系统 | |||||||||||
| 200810038218 新型不可挥发存储器的工艺波动性控制方法 | |||||||||||
| 200810091679 半导体集成电路及存储器检查方法 | |||||||||||
| 200810112419 一种FPGA内嵌双端口存储器的测试方法 | |||||||||||
| 2008年09月 公开 | |||||||||||
| 200720170572 一种嵌入式存储器内建自测试结构 | |||||||||||
| 200810092088 非易失性半导体存储装置、系统及其中的不良列的管理方法 | |||||||||||
| 2008年08月 公开 | |||||||||||
| 200810087534 电子装置与其数据传输方法 | |||||||||||
| 200810009733 半导体器件和测试半导体器件的方法 | |||||||||||
| 200810006229 非易失性半导体存储设备和管理该设备的方法 | |||||||||||
| 200810101518 集成有只读存储器的芯片及内建自测试系统及方法 | |||||||||||
| 2008年04月 公开 | |||||||||||
| 200610156436 存储器件的页面缓冲器电路及编程方法 | |||||||||||
| 2008年03月 公开 | |||||||||||
| 200710152892 半导体存储装置中的内部信号监视装置及其监视方法 | |||||||||||
| 2008年01月 公开 | |||||||||||
| 200710129121 具有自测试功能的存储器控制器及其测试方法 | |||||||||||
| 2007年12月 公开 | |||||||||||
| 200610091877 解决中央处理单元的内建自我测试的失败问题的方法 | |||||||||||
| 200710110757.6 用以提升存储器装置的可靠度的系统及其方法 | |||||||||||
| 200710097116.1 测试计算机的存储器存储系统的方法 | |||||||||||
| 2007年11月 公开 | |||||||||||
| 200710101657.7 用于前端压缩模式的并行读取 | |||||||||||
| 200710084211.8 用于测试半导体存储器件的并行比特测试电路及其方法 | |||||||||||
| 2007年09月 公开 | |||||||||||
| 200710088744.3 半导体装置及其测试方法 | |||||||||||
| 2007年08月 公开 | |||||||||||
| 200710006984.4 半导体存储装置 | |||||||||||
| 2007年06月 公开 | |||||||||||
| 200610167230.2 半导体存储装置 | |||||||||||
| 200610171918.8 多端口半导体存储器设备 | |||||||||||
| 200610164288.1 内建式自我测试启动方法及其系统 | |||||||||||
| 200610164099.4 半导体存储器件 | |||||||||||
| 200610002790.2 具有测试功能的半导体集成电路及制造方法 | |||||||||||
| 2007年05月 公开 | |||||||||||
| 200610164831.8 一种只读存储器自检测装置和方法 | |||||||||||
| 200610136150.0 存储器阵列以及用于测试存储器阵列的方法 | |||||||||||
| 2007年04月 公开 | |||||||||||
| 200610159504.3 半导体存储器件 | |||||||||||
| 2007年01月 公开 | |||||||||||
| 200610052227.6 嵌入式系统动态存储错误静态检测的实现方法 | |||||||||||
| 2006年07月 公开 | |||||||||||
| 200510128583.7 借助于位掩码来测试半导体芯片的方法 | |||||||||||
| 200510128579.0 用于利用寄存器组来测试半导体芯片的方法 | |||||||||||
