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分类号为 G11C29/04* 的最新专利
2008年09月 公开
200810080937 半导体集成电路
2007年08月 公开
200580029279.5 减少了位线与字线短路效应的交叉点铁电存储器
2007年07月 公开
200710002283.3 停用故障闪速存储器芯片
2006年09月 公开
200610068082.9 半导体存储器件和半导体存储器件测试方法
2006年08月 公开
200610008998.5 利用锁存的数据和行地址扰频把测试数据拓扑写入存储器
2006年07月 公开
200510128583.7 借助于位掩码来测试半导体芯片的方法
2006年05月 公开
200510106464.1 半导体存储装置及检查方法