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分类号为 G11C29/02* 的最新专利
2008年04月 公开
200580049558 在MCP或SIP中的存储芯片的测试系统
2008年02月 公开
200710105081 存储器控制器和存储器控制方法
2007年11月 公开
200710103306.X 半导体存储器及其测试方法
2007年10月 公开
200710102672.3 半导体集成电路装置
200710096090.9 多端口存储装置的测试操作
2007年09月 公开
200680000881.0 半导体装置以及测试半导体装置的方法