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分类号为 G11C17/18* 的最新专利




2008年11月公开
200680043652 半导体器件及其操作方法

2008年10月公开
200810085731 半导体存储器件
200680037308 电一次可编程和一次可擦除熔丝

2008年07月公开
200710001691 保险丝选择电路
200710160123 半导体存储装置及其编程方法

2008年06月公开
200610170136 用于抑制电压抖动的电路及其方法

2008年05月公开
200710146858 半导体存储器件

2008年04月公开
200710167101 顺序输出熔丝切断信息的半导体器件和测试系统
200710166809 电可编程熔丝感测电路以及感测电可编程熔丝状态的方法

2008年03月公开
200710153546 存储器电路以及其误动作保护方法
200710002387 修复电路及避免电子保险丝在静电放电测试时烧毁的方法

2008年02月公开
200710142549 半导体集成电路及其测试方法
200710135773 包含反熔丝写电压生成电路的半导体存储器装置
200710135774 电熔丝电路、存储器器件和电子部件
200710142014 电熔丝电路和电子元件
200710140610 电熔断装置

2008年01月公开
200710129185 半导体存储器件及其制造方法
200710127820 包括硫族化物材料的一次可编程器件及其操作方法

2007年12月公开
200710111922 配置集成电路的方法和系统

2007年11月公开
200580042667.7 配置集成电路的系统和方法

2007年10月公开
200710097136.9 可编程只读存储器
200610066837.1 熔丝检查电路及其检查方法
200610066839.0 烧录检查方法及其电路

2007年09月公开
200710088613.5 半导体存储装置
200580032892.2 用于在熔丝阵列上编写和读取代码的方法及装置

2007年07月公开
200510132946.4 熔丝修整电路与其操作方法
200610168920.X 在集成电路上执行电功能的方法及集成电路结构
200580026623.5 可编程半熔丝连接只读存储器及其极限测试方法
200580026117.6 基于减小的面积、减小的编程电压的互补金属氧化物半导体电子熔丝的可扫描式非易失性存储器位单元

2007年06月公开
200610168566.0 半导体设备、半导体存储设备、控制信号产生方法和替换方法
200610144544.0 EFUSE系统和读出EFUSE的方法

2007年04月公开
200610141523.3 使用熔丝存储PLL配置数据的装置和方法
200610141841.X 用于多用途EFUSE宏的系统和方法

2007年03月公开
200610153723.0 熔丝调整电路

2007年02月公开
200580003366.3 具有ROM矩阵的集成电路器件

2007年01月公开
200610106445.3 半导体存储器件
200610101335.8 包含多位数据的器件

2006年11月公开
200610059737.6 熔丝系统和电熔丝编程的方法
200610006832.X 存储器阵列电路

2006年09月公开
200610068082.9 半导体存储器件和半导体存储器件测试方法
200610005460.9 晶体管反熔丝器件

2006年08月公开
200610006048.9 闪存单元熔丝电路和熔断闪存单元的方法
200510137753.8 半导体存储装置
200510129684.6 非易失性半导体存储器

2005年11月公开
200510084501.3 保险丝控制电路的低功率设计结构

2005年07月公开
200510003622.0 半导体装置