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分类号为 G11C16/26* 的最新专利
2009年01月 公开
200810040933 一种高读取速度、低操作干扰的相变存储单元存储器及其操作方法
2008年12月 公开
200810129293 闪存装置和调节闪存装置的读电压的方法
200810127017 与CMOS兼容的单层多晶硅非易失性存储器
200810090005 用于降低读取干扰的读取闪速存储器件的方法
200680041910 具有定时信息的反向耦合效应
2008年11月 公开
200710161121 储存单元及其制造方法与操作方法
2008年10月 公开
200810035116 沟道型侧壁浮栅结构闪存及其使用方法
200810092453 非易失性存储装置及其操作方法
200710169601 采用三电平单元的存储装置及相关的管理方法
2008年09月 公开
200710130440 在非易失性存储器件中读取数据的方法
200710129990 检测伪编程单元的方法和使用其对伪编程单元编程的方法
200810035117 纳米硅材料侧壁结构复位闪存及其制作、使用方法
2008年08月 公开
200810004810 非易失性半导体存储器件
200710145276 存储器件的读取方法
200810085641 具有监视存储器单元的非易失性存储器设备及其驱动方法
200710002768 多位准记忆单元的操作方法及用其作储存资料的集成电路
200710152904 读取存储器阵列的方法
2008年07月 公开
200810001947 用于多阶相变化存储器的电流顺从感测架构
200810003978 非易失性存储装置及其操作方法和制造方法
200710199607 无须采用额外掩模以相同工艺制造存储与逻辑元件的方法
200710305150 具有多页复录功能的闪存器件及相关的块替换方法
200710306135 闪存设备中恢复数据的方法和相关闪存设备存储系统
200810046620 一种用于EEPROM的灵敏放大器及由其构成的读电路
200680017029 包含耦合补偿的对非易失性存储设备的读取操作
200710153728 利用自升压来读取与非型闪存设备的方法
2008年06月 公开
200710172940 一种闪存单元及其操作方法
200710199197 非易失性存储器装置及其操作方法
200710197076 非易失性存储装置及其操作方法
200680017023 对非易失性存储设备中的耦合的补偿
200680016694 对非易失性存储器的读取操作期间的耦合的补偿
2008年05月 公开
200710199912 包括闪存的存储器系统和操作该系统的方法
200610144579 读取双位存储单元的方法
200710170742 V型沟道结构闪存
200710089843 非易失性存储器件和从其读取信息的方法
200710167207 将弱单元用作读取标识符的非易失性半导体存储器器件
200710110296 自参考读出放大器电路和读出方法
200710136402 非易失性存储装置及其数据读取方法
200710184823 在与非闪存阵列中施加读电压的方法
200710089844 非易失性存储器件及其编程、读取和擦除方法
2008年04月 公开
200610163536 闪速存储器件及其操作方法
200610064370 非易失性存储器件以及对其编程的方法
200710182163 确定评估时间或读取电荷电势与读取判定电压之差的方法
200610156436 存储器件的页面缓冲器电路及编程方法
2008年03月 公开
200710141904 半导体器件
200710145668 具有分流存储单元的电阻存储器
200610163904 存储单元的测量电路和读取方法
2008年02月 公开
200710105006 半导体非易失性存储器
200610109740 存储装置及其读写方法
200580048233 存储器系统中的数据再定位
2008年01月 公开
200610172133 具有旁路晶体管的非易失性存储器件及其操作方法
200710129069 从非易失性存储器读取数据的方法及装置
200710101038 非易失性存储器件的操作方法
200710127895 具有变化沟道区界面的非易失性存储器的操作方法
200580043259 存储器感测电路及用于低电压操作的方法
200710096988 半导体存储装置、以及其读取方法和读取电路
200610086318 与非闪存的读取方法
200710127460 半导体存储装置
2007年11月 公开
200710128838.9 多位存储装置和存储系统
200710104550.8 一种单层多晶硅、多位的非易失性存储元件及其制造方法
200620163365.7 一种用于电可擦除可编程只读存储器的灵敏放大器
200710103217.5 非易失性存储元件及其操作方法
200710128277.2 非易失存储装置及其操作方法
200710102188.0 改善非易失性存储器的数据保存的方法及装置
200710102189.5 改善非易失性存储器的数据保存的方法及装置
2007年10月 公开
200710097200.3 编程存储单元块的方法、非易失性存储器件和存储卡器件
200610099342.9 闪存器件及其读操作方法
2007年09月 公开
200710088555.6 非易失性相变存储设备和相关的编程-挂起-读取操作
200710086119.5 半导体存储器件及半导体集成电路系统
2007年08月 公开
200610064438.1 页面缓冲器及相关读方法
200580032364.7 使用三个或多个信号电平的数据字编码
200710005935.9 半导体存储器件中的突发读取电路及其突发数据读取方法
200710007915.5 具有多个存储块的半导体存储装置
200610064394.2 电可擦除可编程只读存储器及其制造和操作方法
200710002141.7 一种用于辅助电荷存储器器件的阵列结构
200710003749.1 能补偿由于高温应力状态间读出边界减小的闪存编程方法
200610163183.4 具有公共位线的非易失存储器件
2007年07月 公开
200710004303.0 能够高速缓存读出操作的半导体存储器装置
200710001689.X 半导体元件、半导体存储装置及其制造和数据读写方法
200610171285.0 用于存储多值数据的非易失性半导体存储器
2007年06月 公开
200510127902.2 分栅闪存的低功率读取参考电路
200610074724.6 非挥发性存储器封装及从一非挥发性存储器阵列读取被储存的数据的方法
200610163200.4 相可变存储器件及其读取方法
200610162911.X 非易失性半导体存储器件
200610137357.X 非易失性存储装置及其读出方法
2007年05月 公开
200510110787.8 一种存储器读放电路
200510123323.0 串联式PLC主机与扩充机的并列快速通信接口
200610163913.0 用于估计存储单元状态的分析开关电路和分析方法
200610128002.4 单层多晶硅非易失性存储器装置的操作方法
200610143974.0 具有多个MOS晶体管的半导体存储器件及其控制方法
200610144708.X 非易失性相变存储装置及其读取方法
2007年04月 公开
200610135957.2 非易失性半导体存储装置和驱动该存储装置的方法
200610164605.X 电插头和用于分散保存传感器参数的方法
200610124853.1 一种用于电可擦除可编程只读存储器的灵敏放大器
2007年03月 公开
200580008076.8 具有其温度依赖性被补偿的电流的非易失性存储器单元及其数据读取方法
2007年02月 公开
200610115051.4 用于读取非易失性存储单元的方法
2007年01月 公开
200510135714.4 页缓冲器电路及采用该电路读取和编程数据的方法
200610088716.7 用于非易失性半导体存储单元的检测方案
2006年12月 公开
200510078059.3 氮化硅只读存储单元的位的读取方法
200610009383.4 非易失存储器补偿读取源极线的装置
2006年11月 公开
200520033562.2 一种适用于无源电子标签的数据输出电路
200520033563.7 一种具有数据读出检测电路的数据输出电路
2006年10月 公开
200610073510.7 存储多值数据的非易失性半导体存储器
200610074096.1 半导体存储器件
200610073509.4 非易失性半导体存储装置的基准电流生成电路
200610067990.6 闪存及包含闪存的处理系统
2006年09月 公开
200510091625.4 具有减小的尺寸的快闪存储器及其存取方法
200610059507.X 非易失存储器和其驱动方法
200510091635.8 多面型闪存以及控制其程序和读取操作的方法
2006年08月 公开
200610024110.7 非挥发性存储器单元
2006年05月 公开
200510074676.6 读取闪存装置的方法
2006年03月 公开
200510051182.6 电荷陷入非挥发性记忆体的感测装置与方法
200510087650.5 非易失性半导体存储装置及读出方法
2006年01月 公开
200510082113.1 用于在低电源电压下工作的闪存器件的读出电路
2005年11月 公开
200510071711.9 用于产生可变参考电平的读出放大器及方法
2005年10月 公开
200510062701.9 非易失性存储电路和半导体装置