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2009年01月公开
200580052351 测试适配器
200680045544 探针卡
200720305685 调针机

2008年12月公开
200810092679 检测探针卡中探针位置的装置
200710185179 测试系统
200820031860 压床两段式治具
200710111404 一种具有ZIF连接器之针测卡与其装配方法、晶片测试系统及测试方法
200820005872 探针装置
200820044627 连接器检测治具
200720016480 缓冲式垂直探针卡
200680045233 探针卡
200720196704 一种无钥匙点火装置的测试系统
200820002799 可测试精密电阻的万用测试装置

2008年11月公开
200810092680 生成探针测试机用地图数据的装置及方法
200710109230 电性接触装置的制造方法
200710097393 具电性遮蔽结构的探针卡
200810081881 探针组合体及检查装置
200810131803 半导体集成电路器件的制造方法及探针卡
200810131804 半导体集成电路器件的制造方法及探针卡
200810081853 探针单元及检查装置
200810099307 探针卡及其制造方法
200810096752 流水线测试设备及方法
200680040539 导电性触点支持物的制造方法
200680040710 导电性触头支架的制造方法及导电性触头支架
200720171524 一种键盘测试装置

2008年10月公开
200810039177 人工耳蜗电极极阵联测试装置
200820054511 一种探针卡固定框架
200810090199 探针单元以及检查装置
200810003970 探针针尖位置检测方法及装置、对准方法以及探针装置
200720041863 两段式真空治具
200810090620 探针组装体
200810091160 探针电阻测量方法和具有用于探针电阻测量的焊盘的半导体装置
200720171161 一种测试电路板上邻近测试点的辅助工具
200720077334 具有探针的前端总线测试装置及前端总线测试架构
200710088841 测试装置与其探针结构
200810009256 半导体元件测试结构
200810090758 半导体检查装置
200810090206 电子设备用测量夹具、其集合板以及使用了它们的测量装置
200720076668 一种信号采样的在线自动测试装置

2008年09月公开
200810086830 探针卡
200810082388 检查装置和检查方法
200810085754 探针单元以及检查装置
200710005669 高速测试卡
200720170911 PCB板测试探头
200710086429 探针装置
200810007897 探针组装
200710188651 半导体元件测试结构
200710079964 多部位探测的探针头模组
200710199524 电子器件检查布线板及其制造方法
200680032853 导电性触头以及导电性触头的制造方法
200680031627 探针卡及其制造方法
200720082290 主蓄电池组数据采集接口板

2008年08月公开
200810088341 具导线外突的测试用导电橡胶
200810081826 面板测试电路结构
200810086372 可进行复合测试的测试设备
200720015654 组装式陶瓷块探针卡
200720178152 探针
200810082210 集成电路测试座及其测试接口
200810088151 用于测试晶片的探针板
200680030219 探针卡
200710003328 ZIF连接器针测卡及其装配方法、晶片测试系统及测试方法
200680028475 用于清洁探针卡的方法和设备
200720169285 一种芯片测试装置

2008年07月公开
200720138953 一种探针及安装有该探针的垂直探针晶元探针卡
200710001250 高频探针
200710302349 检查方法、检查装置及存储了程序的计算机可读存储介质
200710173680 基于电镀工艺的微机械测试探卡及制作方法
200720176731 测试晶片的治具结构
200610170559 影像感应晶片的晶圆级测试模组及测试方法
200710187713 半导体集成电路装置和用于其的薄膜探针片材的制造方法

2008年06月公开
200680023094 用于测试电子装置的设备
200720040722 IC测试治具
200720175485 电路板测试夹具
200710168176 探针卡

2008年05月公开
200680006942 具有层叠基板的探针卡
200710166527 连接电气信号用坐标变换装置
200610145132 晶片级测试电路板的制造方法及其结构
200610156842 探针式电路板测试制具的固定方法
200710166411 悬臂式探针晶元探针卡及其生产方法和探针针尖定位方法
200680017357 晶片检查用片状探测器及其应用
200610137689 在线测试机具

2008年04月公开
200710030767 探针
200710163385 半导体集成电路装置的制造方法
200720152138 快拆式探针模组
200720051714 探针组装体
200610116938 探针卡
200610117120 探针卡测试系统
200720116253 油压传感器数据读写插针
200610116914 探针卡
200580049441 用于具有半导体集成电子装置用的垂直探针的测试头的接触探针
200680012073 导电性接触器保持器及导电性接触器单元

2008年03月公开
200610116169 一种晶片测试卡的过电流保护方法及相应的晶片测试系统
200710142461 电子部件试验装置用接口装置
200680008915 探针卡组件和将探针粘连至该探针卡组件的方法
200680010007 微小结构体的探针卡、微小结构体的检查装置、检查方法、以及计算机程序
200680010370 接触探针
200610116037 PC板检测装置
200610031090 探针卡基板
200710047433 矩阵排列式信号采样的在线自动测试装置和方法
200580049139 探针卡及其制造方法
200610112049 具有多层弹性的微机电探针卡
200710128434 垂直式高频探针卡

2008年02月公开
200710141780 测试芯片座
200610111274 合金探针的微机电制造方法
200580047165 具有分段的衬底的探针卡
200580048884 半导体集成电路器件的制造方法
200710005656 测试探针装置及其制造方法
200610111041 条式测试方法及功能测试装置
200710143125 探针组合体
200720118476 用于集成电路测试的装置
200610099588 垂直式探针头、探针头制造方法以及模组化探针卡
200720104149 一种承压插针

2008年01月公开
200610103270 探针卡的制造方法
200710101399 半导体集成电路检查用探头卡及其制造方法
200710130586 非接触型单面探针结构
200610028785 探针卡装置
200610099301 高频探针卡
200710142153 探针板
200610105805 半导体构装元件的测试装置
200710146637 显示面板的测试治具及测试方法
200710101356 半导体检查装置及半导体集成电路的检查方法
200720117988 电子及电路板检测装置

2007年12月公开
200710108628.3 能够使弹簧管脚对准印制电路板的探测器及其制作方法
200620042851.3 检测用探针
200610083822.6 电路板测试治具
200620149759.7 万用型复合式电路板测试治具
200620137389.5 电子测试装置
200620046600.2 探针卡

2007年11月公开
200610060868.6 加工针床设备
200710101932.5 传输电路、探针板、探针卡、半导体检查装置及制造方法
200620149944.6 探针台的磁性固定底座结构
200620015366.7 一种线路板电性能测试夹具
200620149734.7 接触测试装置
200620016150.2 集成电路芯片测试座
200620137593.7 精密微调模具

2007年10月公开
200610026266.9 一种探针板
200580040449.X 用于半导体器件测试器的接口设备
200620015715.5 一种界面针床
200620158266.X 电子装置的电气信号连接头及连接座
200710095827.5 微型探针导向装置的制造方法以及微型探针单元
200710090775.2 平板显示器测试用检测装置及其制造方法
200580034397.5 用于探测半导体晶片的可置换探针装置

2007年09月公开
200580036079.2 接触单元及检查系统
200620122953.6 一种晶圆测试卡
200710085791.2 探针卡,该探针卡的设计方法,以及使用该探针卡测试半导体芯片的方法
200620122952.1 一种晶圆测试卡
200710038538.1 微机械圆片级芯片测试探卡及制作方法
200580026854.6 用于探针卡的互连组件
200620107406.0 同轴多测点测试棒

2007年08月公开
200710080236.0 探针组合体
200610003589.6 集成电路测试卡
200610008526.X 集成电路测试卡
200610008528.9 集成电路测试卡
200580024590.0 用于IC测试之具有高弹性悬臂之弹簧探针

2007年07月公开
200610168418.9 对电气试样进行测试的电气触点设备和电气测试装置
200610005897.2 探针测量装置及系统
200580027607.8 具有图样化导电层的基板
200580025513.7 用于在基板上形成共面焊盘的方法和装置
200610156264.1 基板检查装置及基板检查方法
200620112282.5 探针座结构

2007年06月公开
200580025046.8 晶片检验用各向异性导电性连接器及其制造方法和其应用
200580023882.2 电路基板的检查装置以及电路基板的检查方法
200620113795.8 探针装置
200510131029.4 具补强结构的微孔导板
200510111290.8 垂直探针卡制作方法
200610168417.4 用于测试电试样的电测试设备及相应的方法
200610162999.5 探针卡移载辅助装置和检查设备
200580021674.9 探针卡

2007年05月公开
200510124843.3 可传递差动信号对的探针卡
200510124837.8 探针卡的探针及其制法
200510124838.2 薄膜式探针卡
200610162469.0 检查装置及检查方法
200510120307.6 可快速更换电子零件的探针卡
200610138292.0 半导体集成电路装置的制造方法及探针卡
200610143416.4 晶片水平测量功率MOS门器件栅电阻的改进校准法
200510118021.4 探针卡的探针装置
200580015971.2 片状探针及其制造方法和应用

2007年04月公开
200610159560.7 探针片粘贴架、探针卡、半导体检测装置及其制造方法
200510113497.9 用于探针装置的定位件
200620102519.1 电路板性能测试辅助装置
200510105462.0 测试用的非平面PC板

2007年03月公开
200610117283.3 简支梁型微电子机械系统探卡及其制备方法
200610139281.4 探针卡移载辅助装置、检查设备和检查方法
200610053269.1 同轴多测点测试棒
200610126827.2 接点组装体及其LSI芯片检查装置
200610153449.7 探针卡的紧固机构以及探测装置
200510103332.3 模组探测卡
200580009531.6 用于测试头的接触探针
200520106284.9 用于电气封装体的电性测试的测试插座
200610151456.3 探测卡与载置台的平行度调整方法和检查用程序及装置
200580007193.2 带有空气增强接触销的电缆端子

2007年02月公开
200510036732.7 集成电路测试装置
200510092620.3 高频悬臂式探针卡
200510093180.3 成排弹性探针及其制造方法
200510089799.7 用于防止噪声干扰的半导体测试板结构
200510091412.1 垂直式探针卡
200510091413.6 用于测试影像感测芯片的探针卡
200510091421.0 用于半导体测试板的防止噪声干扰的探针结构
200610159249.2 圆环形并联探针卡及使用该卡检测半导体晶片的方法
200580002852.3 探针卡

2007年01月公开
200580001607.0 能够对应多种测试器的探针装置
200520143006.0 探针移除装置
200610098562.X 用于显示面板的检查装置及其中所用的接口

2006年12月公开
200610093074.X 半导体集成电路器件的制造方法
200610094564.1 能够将测试对象精确连接至基底的测试装置
200610087908.6 半导体集成电路器件的制造方法
200510134548.6 信号探针和探针组件

2006年11月公开
200520005886.5 绕线弹针可拆式PCB测试机转换板
200520112695.9 直测式治具
200610081994.X 检查用探测器及检查用探测器的制造方法
200520112601.8 模组化探针装置及探针
200520112602.2 微弹性接触器结构
200520063479.X 集成电路测试装置
200520127490.8 探针量测卡

2006年10月公开
200520005890.1 PCB板通用测试机软板测试夹具
200520005889.9 PCB板测试机模块式针床
200520005891.6 PCB板测试机转换板校正辅助装置
200520005892.0 PCB板测试机夹具探针阻滞结构
200520113743.6 通用四线式开关卡
200610009367.5 与半导体封装结合使用的触头组件和插座

2006年09月公开
200520002752.8 探测片
200510098693.3 探测卡介面板

2006年08月公开
200510007386.X 适用于各式电气特性且具微小测点的测试模组
200510051673.0 垂直式探针卡
200610004414.7 电子组件测试系统的万用型探针装置
200520104340.5 电子物件的测试探针
200520110452.1 用于电气封装体的电性测试的测试组件
200520102674.9 无刷电机控制器的检测装置
200520004938.7 测试治具的改良
200520058404.2 新型纳米治具
200610005885.X 电路板检测装置、存储介质、电路板检测方法、电路板制造方法以及电路板
200510090681.6 用于测试半导体器件的插座组件
200520111292.2 插头快速插头

2006年07月公开
200510004559.2 探针卡
200510032983.8 集成电路检测装置及其制备方法
200610051361.4 半导体芯片检测用的探针板及其制造方法
200520018328.2 复合式印刷电路板测试装置
200510051114.X 用于检测平面显示屏的探测装置的探针组件
200510123379.6 半导体检查装置以及半导体装置的制造方法

2006年06月公开
200510102170.1 一种半导体晶圆片多路测试方法和多路测试探针台
200510088105.8 探针板、使用其的检查方法及由该方法检查的半导体装置

2006年05月公开
200510105306.4 探针卡、测试垫及保护结构
200510109585.1 用于探测测试接入点结构的扭曲固定探针的方法和装置
200510116907.5 用于探测测试接入点结构的摆动固定探针的方法和装置

2006年04月公开
200510073131.3 探针组装体
200520000679.0 改良的实装板测试治具
200510124735.6 检测装置

2006年02月公开
200510087516.5 用于测量仪器中的探头识别装置
200510088273.7 金属间弹簧结构
200510092263.0 测试磁性传感器的探针板和方法

2005年10月公开
200510063520.8 半导体集成电路器件的制造方法及探针卡

2005年09月公开
200510052667.7 探测片及其再生方法

2005年08月公开
200510007498.5 探针卡
200510007499.X 探针卡

2005年06月公开
200510007676.4 一种微机电探针电路薄膜及其制法