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分类号为 G01N23/20* 的最新专利
2008年12月 公开
200710123447 一种评价层状结构锂钴氧化物电化学性能的方法
200710123448 一种评价AB5型储氢合金粉电化学性能的方法
200820010662 X射线衍射仪用多功能样品架
2008年11月 公开
200720201339 织构试样架
200810020440 爆炸物检测系统装置及其检测方法
200810114544 一种对木藤材解剖性质快速预测的方法
200680039313 聚集蛋白聚糖酶结构
2008年10月 公开
200720157303 电子背散射衍射专用样品座
200580029515 用于确定材料的平均原子序数和质量的方法和系统
200680034517 龙虾眼X射线系统及其制造方法
2008年09月 公开
200710064106 X射线衍射数据采集与处理系统
200810095161 用于X射线散射的X射线衍射装置
2008年08月 公开
200810085103 X射线衍射电荷密度恢复、处理及分析方法
200720174416 一种X射线衍射样品架
2008年07月 公开
200810010370 X射线衍射仪用多功能样品架
200810055801 取向硅钢[001]晶向偏离角Α,Β的测定方法
200680024504 多重散射校正
200710304022 一种采用增感屏提高胶片曝光效率的方法
200680024005 用于辐射以及辐射检测的移动设备
2008年06月 公开
200710035951 一种测量铁电膜残余应力的方法
200610165285 绝缘体上应变硅异质结的无损检测方法
200680021681 能量鉴别散射成像系统
200610134436 制备大晶粒薄板材料极图测量样品的试样架及织构分析
2008年05月 公开
200610134202 反射式高能电子衍射仪用电子枪电源
200610134135 一种用离子束加工样品界面实现背散射表征的方法
2008年04月 公开
200710177581 用于单晶取向测试仪的激光瞄准图像监视装置
200610140710 一种X射线衍射峰高比的定点测量方法
200710140951 利用物质的结晶度来识别物质的系统和方法
2008年03月 公开
200680010233 在用于材料检测和成像的非侵入式集装箱检查中具有核共振荧光的接近单色的和可调谐的光子源
200580049003 薄膜样品测量方法和设备及薄膜样品制备方法和设备
2008年02月 公开
200720103683 一种X射线衍射数据采集系统
2008年01月 公开
200610029330 一种利用背散射技术进行炸药检测的装置
200610029413 一种具有X射线背散射和断层扫描的成像系统
200680003279 带有可调节焦距的准直光管
2007年12月 公开
200710106873 一种X射线的弯曲晶体连续衍射分光与探测的控制方法及其装置
2007年11月 公开
200620093922.2 一种用离子束加工样品界面实现背散射表征的装置
200620091761.3 X射线回摆曲线测定系统
200610046542.8 硅单晶锭X射线定向仪
200580034274.1 对象身体内的放射性源定位
200620042136.X 用于钢板织构测定的样品安装架
2007年10月 公开
200710087457.0 从中药等天然产物混合体系中高效、快速获取靶分子与靶蛋白复合体精细三维结构的新方法
200620093987.7 一种反射式高能电子衍射仪用电子枪电源
200620158446.8 一种X射线衍射测角仪的样品台安装结构
2007年09月 公开
200620027371.X 旋转式弯晶衍射分光与探测装置
2007年08月 公开
200620044288.3 一种具有X射线背散射和断层扫描的成像装置
200710007935.2 X射线设备的用于产生相位对比照片的焦点-检测器装置
200710007950.7 用于产生相位对比图像的放射装置的焦点/检测器系统
200710007953.0 用于产生相位对比照片的X射线设备的焦点/检测器系统
200710007954.5 产生投影或断层造影的相位对比照片的焦点-检测器装置
200710007958.3 用于产生相位对比图像的X射线装置的焦点/检测器系统
200710007962.X 带X射线光学光栅用于相位对比测量的焦点-检测器装置
200710007964.9 通过X射线无破坏地分析检查对象的方法和测量装置
200710007968.7 产生投影或断层造影相位对比图像的焦点-检测器装置
200710007965.3 用于识别和区分患者血管结构中的斑块的方法和CT系统
2007年07月 公开
200620044209.9 一种利用背散射技术进行炸药检测的装置
2007年06月 公开
200620079376.7 兼顾取向和非取向晶体分析的XRD样品台装置
200580023560.8 甲磺司特结晶的均匀性评价方法、均匀的结晶及其制造方法
200580022712.2 X射线操纵器
200610098329.1 一种基于XRD的涂层界面结合强度检测方法和装置
2007年05月 公开
200510086949.9 一种评价头孢哌酮钠药品稳定性的方法
200610148412.5 结晶蜡
200520122122.4 高能量分辨率固体阵列检测器
2007年04月 公开
200610114146.4 一种高碱度烧结矿主要矿物自动识别与定量方法
200580012421.5 锥束相干散射计算机断层摄影装置
200580012218.8 通过确保在一个时刻只有一个源在发射辐射而对包括多个源的反向散射检查入口中的串扰的消除
2007年03月 公开
200580008751.7 用于相干散射CT的射束硬化和衰减校正
2007年02月 公开
200620038807.5 利用背散射技术进行安全检测的装置
2007年01月 公开
200520107666.3 电子背散射衍射系统气动推进装置
2006年12月 公开
200520122121.X 一种用于X射线衍射仪的全反射平行光狭缝
2006年11月 公开
200520076390.7 X射线衍射仪用旋转样品台
200610046663.2 X射线回摆曲线测定系统
200510069061.4 一种锂钴氧化物中晶相钴氧化物含量的定量分析方法
200610078610.9 用于X射线衍射分析的方法和装置
2006年10月 公开
200510066313.8 一种飞秒电子衍射装置
200610031505.X 缩聚磷酸铅的生产方法及检测方法
200520092740.9 硅单晶锭X射线定向仪
2006年09月 公开
200520114036.9 一种高千伏X射线点扫描成像系统用背散射探测器
200610018673.5 CAO-AL2O3-SIO2系统微晶玻璃残余应力的中子衍射测量方法
2006年08月 公开
200520008746.3 基于整体会聚X光透镜的EXAFS谱仪
2006年07月 公开
200520018037.3 一种用于研究物质运动超快过程的电子衍射装置
2006年06月 公开
200510131351.7 微小区域残余应力的无损检测方法
200520105448.6 X射线弯面晶体分光计
2006年04月 公开
200520040739.1 超快时间分辨X射线衍射仪
200520029866.1 一种矸石分析仪
2006年02月 公开
200510047131.6 一种半自动X射线晶面指数标定方法和晶胞常数计算方法
2006年01月 公开
200510084364.3 一种高千伏X射线点扫描成像系统用背散射探测器
2005年11月 公开
200510016732.0 应用面探衍射仪检测异质外延膜晶格取向的方法
200510026460.2 凝胶电泳分离血清脂蛋白及其量化检测的新方法
2005年09月 公开
200510024989.0 用羽毛检测X射线源相干性的方法
200510024985.2 超快时间分辨X射线衍射仪
2005年08月 公开
200510024279.8 X射线衍射样品架的制备方法
200510024299.5 时间分辨X射线衍射仪
200510023778.5 X射线奥氏体测量标定试样的制备方法
2005年07月 公开
200510023292.1 X射线应力测量标定试样的制备方法