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分类号为 G01N13/10* 的最新专利
2008年12月 公开
200810023714 曲面复合超分辨载流管
200810057853 一种大气下扫描原子力和隧道电流联合显微镜
200680046323 用于检测被测物品的方法和设备
200820078606 一种基于相变材料的透射电镜电学测量载网
200720130840 双探针同点测量扫描探针显微镜
200810110050 用于带电粒子仪器中的样品承载器及其使用方法
200820071334 试件材料纳米尺度力学性能测试的微拉伸装置
200820078706 纳米材料原位应力测试透射电镜载网
2008年11月 公开
200810062982 用于扫描探针显微镜的螺旋式扫描方法
200820078605 一种扫描电子显微镜原位电学测量装置
200720157305 扫描电镜样品台
2008年10月 公开
200710177756 SPM高分辨图形数据处理方法
200810038856 一种确定双相不锈钢点蚀优先发生相区的方法
200810114537 基于脉冲管制冷技术的低温扫描探针显微镜系统
200720157303 电子背散射衍射专用样品座
200710047952 猪附红细胞体的小鼠感染模型的构建方法
200810055675 一种在透射电子显微镜中原位测量纳电子器件性质的样品台系统
2008年09月 公开
200720144307 观察硅片样品断面的样品台
200720157306 一种扫描电镜样品台
200720157304 喷金仪样品台
200810050345 材料纳米力学性能测试中的两自由度加载装置
200810036162 一种扫描探针显微镜三维校准用胶体球标样的制备方法
200620156705 液体中扫描探针显微镜探针灵敏度提升装置
2008年08月 公开
200810020044 电子显微镜下微纳样本的控制系统
200810020045 电子显微镜下微纳样本的无线控制系统
200710037676 聚焦离子束设备及聚焦离子束检测方法
200810100875 一种离子束轰击制备扫描电子显微镜试样的方法
2008年07月 公开
200810052332 金相全面测量法
200810050350 试件材料纳米尺度力学性能测试的微拉伸装置
200710191138 无摩擦惯性步进扫描器、控制法、同点扫描双探针显微镜
200810056836 透射电镜用纳米材料应力测试载网
200810056837 压电陶瓷片驱动的扫描电镜中纳米材料拉伸装置
200710304097 用于光学显微镜观察蛋白质晶体生长的样品池
200710304237 平板式三维定位/扫描装置
200710179537 透射电子显微镜样品台转接头和所用基片及基片的制造方法
200710307276 多功能光学微操纵装置
200710173060 探针诱导表面等离子体共振耦合的光刻方法
200720169808 透射电镜中纳米线原位压缩下力电性能测试装置
200720173277 透射电镜中一维纳米材料测试载片
200610201448 测察铝电解电容器用电极箔微观形貌的制样方法
200610135435 多功能广用性微悬臂梁感测灵敏度操控系统
2008年06月 公开
200610118716 聚焦离子束显微镜样品台及其使用方法
2008年05月 公开
200710158813 一种用于研究植物叶片全息结构而对叶片进行处理的方法
200710193134 一种显示GCR15原始奥氏体晶粒边界的金相腐蚀方法
200720169809 一种透射电镜中纳米线原位拉伸下力电性能测试装置
200710060304 吡嗪酰胺衍生物及其制备方法与应用
200720007833 一种温度补偿的扫描标准具
200720071239 样品台
200610134135 一种用离子束加工样品界面实现背散射表征的方法
200580032008 用于电化学、电学或形貌分析的传感器
2008年04月 公开
200710176364 扫描电镜电子背散射衍射原位拉伸装置及测量的方法
200610116910 透射电子显微镜样品的制作方法
200610116904 试样台
2008年03月 公开
200620172813 扫描电镜中单根纳米线原位力学综合性能测试装置
200620172814 扫描电镜中纳米线原位拉伸装置
200710021368 监测分子构象转变和生化反应的方法及装置
2008年02月 公开
200710122092 一种纳米材料原位结构性能测试的透射电镜载片
2008年01月 公开
200710119315 透射电镜中纳米线原位压缩下力电性能测试装置
200710119316 一种透射电镜中纳米线原位拉伸下力电性能测试装置
2007年12月 公开
200610083996 一种射频单电子晶体管位移传感器的设计方法
200710138848.0 探针位置控制系统和方法
200620141572.2 微悬臂传感器测量液体中痕量物质的装置
200620141573.7 锥形光纤束大范围高分辨柔性成像装置
2007年11月 公开
200620093922.2 一种用离子束加工样品界面实现背散射表征的装置
200610060733.X 极化电子发射源及自旋极化扫描隧道显微镜
200620047669.7 基于正弦相位调制的单光源激振测振仪
2007年10月 公开
200710078484.1 冶金矿相智能识别方法
200710065552.0 一种压电扫描器高速扫描方式
2007年09月 公开
200710065395.3 一种光子晶体表面周期性结构的检测方法
200620139251.9 自适应切片扫描系统
2007年08月 公开
200710064361.2 一种制备超低碳钢金相样品及显示组织的方法
200610127623.0 集成电路及金属氧化物半导体元件中判断漏电流的方法
200610160367.5 信息介质以及使用其的写入和再现信息的设备和方法
200610156779.1 扫描型电子显微镜及缺陷检测装置
2007年07月 公开
200610105318.1 基于数字图像技术三维重构金相组织微观浮凸的方法
200610142805.5 使用半导体探针再现信息的方法和采用半导体探针的装置
200610169838.9 扫描电镜中单根纳米线原位力学综合性能测试装置及方法
200610169839.3 扫描电镜中纳米线原位拉伸装置及方法
200610121482.1 微致动器和使用微致动器的数据存储设备
200510137450.6 零阿贝误差测量系统及其方法
200580025743.3 使用离子束制造扫描探针显微镜和临界尺寸扫描探针显微镜纳米针探针的方法与由其制造的扫描探针显微镜和临界尺寸扫描探针显微镜纳米针探针
2007年06月 公开
200610155510.1 微悬臂传感器测量液体中痕量物质的方法和装置
200610155511.6 锥形光纤束大范围高分辨柔性成像方法及装置
200610121480.2 具有介质平台的微致动器的制造方法
200620042852.8 模块化扫描探针显微镜
200610135723.8 透射型电子显微镜用的试样制作方法、观察方法以及结构
200610128908.6 用于样品分析的方法及设备
200510130410.9 电子显微镜用的半封闭式观测环境
200510130413.2 电子显微镜用的封闭式观测环境
2007年05月 公开
200510126709.7 使用悬臂结构的毫微数据写入和读取设备及其制造方法
200610117703.8 一种扫描探针声学显微成像用低频、收发两用型传感器
200610164651.X 振动型悬臂支架和扫描探针显微镜
2007年04月 公开
200610118188.5 基于正弦相位调制的单光源激振测振仪
200610143158.X 对样品进行显微处理的组合工具
2007年03月 公开
200520112523.1 一种用于新型超高真空系统传样装置的样品接收台
200610126647.4 用于确定粒子光学装置中透镜误差的方法
2007年02月 公开
200610043075.3 一种纳米多台阶高度样板及其制备方法
200510012981.2 一种不锈钢显微组织的观察方法
200610015496.5 微纳结构3D轮廓测量中基于坐标变换的倾斜误差补偿方法
200610015497.X 微纳结构3D轮廓测量中基于模板的相位解包裹方法
200610127937.0 一种用于研究氧化铝颗粒剖面结构的制样方法
200510086212.7 扫描探针显微镜的数字闭环扫描控制系统
200610029895.7 一种用于表征纳米钢微观组织的方法
200520023172.7 一种扫描显微环境下的薄膜拉伸加载装置
2007年01月 公开
200510046915.7 纳米尺度下样品形貌与性质感知方法
200510046916.1 基于扫描探针显微镜的低价位触觉交互接口的实现方法
200610088968.X 扫描探针显微镜的全数字控制方法及系统
200510012050.2 Α反冲径迹测定年代方法
200510012051.7 Α反冲径迹精准定位观测方法
200610088992.3 荷电衬度成像的方法
2006年12月 公开
200610043078.7 一种纳米节距样板及其制备方法
200510076355.X 缺陷检测方法
2006年11月 公开
200610026523.9 一种集成压阻二氧化硅悬臂梁超微量检测传感器、制作方法及应用
200610012016.X 一种薄膜材料的透射电镜样品的制备方法
200610035785.1 一种海水鱼类卵子电镜扫描样品制备方法
200610027763.0 模块化扫描探针显微镜
200520110862.6 新型超高真空系统传样装置
200520112522.7 用于超高真空系统传样装置的样品托
200510065604.5 一种利用微区覆膜进行缺陷分析的方法
200610077254.9 扫描探针显微镜、使用其的试样观察方法及装置制造方法
200610079984.2 近场光发生器件的制造方法
2006年09月 公开
200610059160.9 悬臂固定器及扫描探测显微镜
200610058365.5 扫描探针显微镜
2006年08月 公开
200510103948.0 扫描电子显微镜
200610057989.5 单根纳米线原位力学性能测试和结构分析的方法及其装置
2006年07月 公开
200610023203.8 一种可以观测化学反应过程中物质形态的分析测试装置以及方法
200510133694.7 一种微悬臂梁的品质因数控制系统
2006年06月 公开
200510131720.2 扫描探针显微镜传感器
200510109823.9 用于真空腔室中样品形成和微观分析的方法和设备
2006年05月 公开
200510117193.X 表面性状测定用探针以及采用该探针的显微镜
200510123305.2 金属原位分析仪悬浮式扫描方法及样品夹具
2006年03月 公开
200510021649.2 用于扫描探针显微镜的薄膜断面定位方法
200510021650.5 一种用于扫描力显微镜观察薄膜样品断面的样品台
2006年02月 公开
200510082201.1 用于从衬底去除显微试件的方法
200510005718.0 探针显微镜的操作方法
2006年01月 公开
200510087602.6 具有用于光学部件的可枢转固定装置的显微镜
200510082199.8 用于抽空试件的设备
200510082203.0 用于从衬底去除显微试件的方法
2005年11月 公开
200510080000.8 新型超高真空系统传样装置
200510018927.9 一种具有环境加载功能的微机电系统动态特性测量装置
200510078348.3 带电粒子束装置探针操作
2005年10月 公开
200510052314.7 扫描隧道显微镜和扫描微电极联用测量系统及其测量技术
2005年09月 公开
200510018429.4 一种微型三维自扫描共焦显微镜