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分类号为 G01J4/00* 的最新专利




2008年12月公开
200810040614 四分之一波片快轴方位实时测量装置和方法

2008年11月公开
200820005767 旋光器旋光角度的测量装置

2008年10月公开
200680039118 利用POTDR轨迹来评估光纤PMD的方法
200810011265 一种天空偏振光的辐射光谱测量系统

2008年09月公开
200810044407 在线偏振光时域反射光纤传感装置
200710064594 同步辐射X射线多层膜综合偏振测量装置

2008年08月公开
200720046210 一种椭圆偏振光分析装置

2008年07月公开
200810059036 去偏器制作中的偏振度在线检测系统

2008年04月公开
200710103305 测量装置和测量方法
200710103311 测量装置和测量方法

2008年03月公开
200680010479 分析物无创检测的方法和装置
200580024159 成像方法和装置
200720067870 测量1/4波片的相位延迟和快轴方向的装置

2008年02月公开
200710132674 一种椭圆偏振光分析装置

2008年01月公开
200580047167 对微电子电路的计量表征

2007年12月公开
200710038759 消光/光度兼容式自动椭偏仪和测量方法
200620144612 一种用于旋光仪试管的含铰链机构的竹蛏形恒温夹套装置
200620173458.8 一种用于旋光仪试样管的恒温毯装置

2007年11月公开
200580036436.5 聚合物薄膜等的双折射测量

2007年08月公开
200610042552.4 高精度石英波片堆的粘合方法
200620085626.8 相干偏振矩阵测量系统
200710038116.4 测量1/4波片的相位延迟和快轴方向的方法和装置
200710004730.9 测量方法

2007年07月公开
200620012342.6 可定量调节光偏振态的装置

2007年06月公开
200620008302.4 消光比及有关参数的测量装置

2007年05月公开
200520142247.3 使用光偏振控制器进行偏振相关损耗和偏振度测量的设备

2007年04月公开
200520046693.4 基于偏振度解调的电流传感装置

2007年01月公开
200520047479.0 一种半自动旋光仪
200520079787.1 激光束散角测量板

2006年12月公开
200610057743.8 主动控制和检测用于外差干涉的光纤中的偏振

2006年09月公开
200610072875.8 可定量调节光偏振态的装置及其方法

2006年08月公开
200610037935.2 天文光学望远镜偏振滤波方法与装置
200510126182.8 使用光偏振控制器进行偏振相关损耗和偏振度测量的设备及方法

2006年05月公开
200510110518.1 基于偏振度解调的电流传感方法及装置

2005年10月公开
200510062742.8 偏振性质的光分析器