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分类号为 G01B15/02* 的最新专利
2009年01月 公开
200720196524 X荧光测厚光谱仪
2008年12月 公开
200810104540 硅衬底薄膜膜厚的测量方法
200680042894 X射线检查装置
2008年10月 公开
200680040215 用于测量材料密度的方法、系统及计算机程序产品
200720311095 中子测厚探头装置
2008年08月 公开
200680029970 确定涡轮机至少一个叶片的热障涂层厚度的方法、实施该方法的相应热障涂层层厚测量装置及该方法和热障涂层厚度测量装置的应用
200680028571 用于检控壁厚的方法和装置
200680028676 成像几何关系
2008年07月 公开
200720151709 全自动往复式宽幅X射线薄膜测厚仪
200810074322 可检测接点厚度的基板及其检测方法
200680025499 以电磁方式测量壁厚的装置
2008年06月 公开
200710193585 一种纳米级多层膜结构的测量方法
2008年04月 公开
200710167637 测量电芯或电缆尤其是电力电缆的塑料护套壁厚的方法
2008年03月 公开
200720143508 金属带材X射线测厚仪C型架冷却装置
200580049003 薄膜样品测量方法和设备及薄膜样品制备方法和设备
2008年02月 公开
200580048890 镀锌类钢板的表层氧化膜的膜厚测定方法
200610104109 一种测量非金属板厚度的方法
2008年01月 公开
200710014672 工业数字射线成像检测最优透照参数系统建立方法
200710012372 雷达海冰厚度测量仪
2007年10月 公开
200710014671.3 工业数字射线成像检测散射处理方法
200710107187.5 一种使用X射线连续高精度测量金属带材的方法和装置
2007年09月 公开
200620111073.9 用于测厚仪的X-射线电源控制装置
2007年08月 公开
200620120056.1 连续高精度金属带材X射线测厚仪
2007年07月 公开
200510138245.1 一种电池极片面密度测量系统和方法
2007年06月 公开
200510130338.X 石油管道超声波检测方法及检测用的机器人
2007年05月 公开
200610097944.0 X射线凸度测量仪
200610097945.5 厚度/凸度测量装置冷却系统
2007年03月 公开
200610113702.6 气体电离型中低能X、Γ射线探测器
200610127560.9 荧光X射线分析装置
2006年12月 公开
200610092756.9 克重测定方法及装置
2006年08月 公开
200520114150.1 混凝土回弹测厚仪
2006年03月 公开
200510021779.6 无标样测量薄膜厚度和密度的方法