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分类号为 G01B11/30* 的最新专利




2008年12月公开
200710093913 LED芯片表面粗糙度的识别和分类方法
200680047666 确定表面特性的装置和方法
200680046043 表面粗糙度检查装置
200810031788 检测公路路面平整度的摄像测量方法
200680045093 测量冶金熔罐的耐熔衬里中的磨损的方法

2008年11月公开
200680043871 确定表面的反射特性方法和设备
200710104624 整合扫描式光学测量方法
200720199427 激光检定平台平直度的专用工装

2008年10月公开
200680001515 用于生产金属带的方法和装置
200720026074 一种夹芯板平面度测量装置
200720310575 一种轨道平面度测量装置
200710020760 光学检测系统及光学检测方法
200810037396 一种测量晶圆表面平整度的方法及装置

2008年09月公开
200810054908 基于红外白光干涉技术的微结构形貌测试方法
200710200268 平面度检测装置及方法
200680030979 用作检测重叠基片的方法和设备

2008年08月公开
200720192067 轨道平直度数字测量装置
200810064158 路面平整度自动检测装置及检测方法
200580051388 相对于参考测量和绘制表面的系统和方法
200680029684 用于散射仪的双光束设置

2008年07月公开
200810014586 铁路工务起拨道激光测量仪
200720051624 基于机器视觉的瓷砖检测专用装置
200810049054 一种非接触式显示钢球粗糙度的激光检测仪
200680024763 利用瞬逝光的物质信息获取方法和物质信息测量装置、以及碱基序列确定方法和装置

2008年06月公开
200610147626 监测晶圆托盘平整性的方法
200710160017 晶片测量装置及激光加工机
200680020311 优化带材轧制中的平整度控制的方法及装置
200680023184 绘制表面轮廓
200710198980 金属细线的真直性的测定方法及测定装置

2008年05月公开
200680018783 表面检测设备及表面检测方法

2008年04月公开
200720032044 白光干涉测量样品表面形状精细分布的装置
200710176412 三维表面粗糙度评定中建立轮廓基准面的新方法

2008年03月公开
200610127480 非破坏性检测线宽粗糙现象的方法
200710165438 接触和非接触式两用表面粗糙度测量系统
200720069315 板状工件上下平面的平面度及平行度检测装置

2008年02月公开
200580019937 光学计量中的形状粗糙度测量
200710113709 一种夹芯板平面度测量装置

2008年01月公开
200680004516 用于检测玻璃板端面缺陷的装置和方法
200710108822 不均检查装置及其方法、以及图像显示装置及其方法

2007年12月公开
200620049309.0 一种激光测量平面度、直线度的专用工装

2007年11月公开
200620125618.1 水槽切割机用激光灯
200710101797.4 用于增强确定衬底上的结构的坐标时的测量精确度的方法
200580041177.5 表面检查装置及表面检查方法

2007年10月公开
200620046834.7 光学玻璃粗糙度实时检测装置
200710096098.5 形状测定仪
200710090692.3 基板检查装置及使用其的基板检查方法
200620079669.5 激光路面构造深度检测仪

2007年09月公开
200710017626.3 非球面面形检测装置和方法
200710087689.6 外观检查装置
200580030024.0 用于尺寸、外形和棱角性分析以及用于矿石和岩石颗粒的成分分析的设备和方法
200710038728.3 基于旋转Y型光纤的三维变形测量系统
200710038782.8 基于分束光纤的三维变形测量系统
200710017341.X 基于图像处理与图像识别的平整度检测方法
200710086201.8 缺陷检查装置缺陷检查方法

2007年08月公开
200710005974.9 测量衬底后表面的翘曲的方法
200710005548.5 外观检查装置
200580031809.X 具有带镜面区的参考面的干涉测量系统
200620016829.1 平面度检测治具
200680000698.0 进行三维计测的图像处理装置及图像处理方法

2007年07月公开
200710001399.5 反射型光学传感器以及测量面的表面粗糙度检测方法
200610148202.6 低压微位移驱动电路及控制方法
200610119020.6 一种定偏移平行输出分束器
200580021039.0 孔内侧表面的检测装置和方法

2007年06月公开
200510022366.X 平面度测试机
200510110983.5 焦炭气孔粗糙度的测定方法
200610138295.4 映像性的评价方法

2007年05月公开
200580017342.3 衬底周边部分测量装置以及衬底周边部分抛光设备

2007年04月公开
200610136261.1 探针观察装置、表面特性测定装置
200610132214.X 基板检查装置
200580014484.4 具有光学探针的测量设备
200610117160.X 光学玻璃粗糙度实时检测装置和方法

2007年02月公开
200580005163.8 用于设计检测路径及用于确定待检测区域的方法
200580005235.9 用于检测表面的方法及系统
200520021749.0 基于图像法的大直径非接触式测量仪
200610105075.1 激光路面构造深度检测仪
200620200063.2 基于垂直位移扫描的非接触式表面形貌测量仪
200620200064.7 基于垂直位移扫描的接触式表面形貌测量仪

2007年01月公开
200520117407.9 工件表面几何尺寸不平度自动检测装置

2006年12月公开
200520079158.9 表面粗糙度检测仪

2006年09月公开
200520012083.2 路面平坦度测定装置
200610200069.4 基于垂直位移扫描的接触式表面形貌测量方法及测量仪
200610200070.7 基于垂直位移扫描的非接触式表面形貌测量方法及测量仪
200520044169.3 表面粗糙度非接触测量装置

2006年08月公开
200510048814.3 凸起检查装置以及方法
200510033141.4 表面形貌分析系统及其分析方法

2006年06月公开
200520078716.X 微小异型件自动检测装置
200510129494.4 表面粗糙度测量方法和设备以及涡轮机劣化诊断方法

2006年05月公开
200510116135.5 可移动型平面度测量装置
200510117189.3 表面性状测定装置
200510117193.X 表面性状测定用探针以及采用该探针的显微镜

2006年04月公开
200510109770.0 检查浓淡不均的装置和方法、以及记录介质
200510113358.6 缺陷检查方法
200510084409.7 膜检测装置、检验系统以及检验印刷电路板的方法

2006年03月公开
200510099994.8 金属细线直进性评价方法及直进性评价装置

2006年02月公开
200510090320.1 用于消除图像中的不均匀亮度的方法和设备
200510028602.9 表面粗糙度非接触测量系统

2005年11月公开
200510075811.9 波纹缺陷检查掩模、波纹缺陷检查装置及方法、以及光掩模的制造方法
200510065123.4 缺陷检测装置和方法以及接线区域提取装置和方法
200510069673.3 表面检测装置和表面检测方法
200510038628.1 BRDF测量系统零位校准方法