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分类号为 G01B11/06* 的最新专利




2009年01月公开
200810032106 一种炉衬测厚系统及方法
200820079483 采用旋转补偿器积分采样的椭偏成像装置

2008年12月公开
200810117785 多层介质材料多参量测量方法与系统
200820056374 双光束在线实时测量光学薄膜应力的装置
200710306602 片材起伏度的测量装置和测量方法
200810150326 滑动轴承润滑膜的动态测量方法及测量用光纤传感器
200680047666 确定表面特性的装置和方法
200810068488 一种钻头芯厚检测方法及检测装置

2008年11月公开
200810064632 利用基带厚度进行自校的电池极板厚度在线测量方法

2008年10月公开
200810069547 自动浇灌洗尘机
200810093249 测量薄膜厚度的装置和方法
200720187687 烟丝厚度测定装置
200720087376 一种微纳深沟槽结构测量装置
200720187294 一种测量沉降槽压缩层厚度的装置
200720159177 全天时光谱反射式漂油现场监测装置
200810059245 CMP过程中晶圆下液体薄膜中间变量的测量装置

2008年09月公开
200710164869 带有自旋的弹流润滑油膜形状实验模拟方法与测量装置
200810047420 一种薄膜厚度和折射率的光学测量方法及其装置

2008年08月公开
200810034820 双光束在线实时测量光学薄膜应力的装置及其测量方法
200810026853 一种含色度监控功能的宽光谱光学镀膜在线监控系统
200810102271 采用旋转补偿器积分采样的椭偏成像方法和装置
200720086949 膏药测厚仪
200710037152 量测晶圆薄膜厚度的装置
200680029970 确定涡轮机至少一个叶片的热障涂层厚度的方法、实施该方法的相应热障涂层层厚测量装置及该方法和热障涂层厚度测量装置的应用
200680030052 利用气体注入孔的PECVD的光发射干涉测量
200680028571 用于检控壁厚的方法和装置

2008年07月公开
200810003019 像素内功能液的形态测定方法及形态测定装置
200720181629 非接触式光电纸厚测量装置
200720189904 触辊式板材厚度分布测量装置

2008年06月公开
200710168944 电缆绝缘厚度测试方法
200710160017 晶片测量装置及激光加工机
200680002310 光学测厚器及使用它的装置与方法
200710198991 荧光体层厚度的确定方法和发光设备的制造方法
200710186631 用于数据挖掘的数据加权对象定向的方法和系统
200610157313 测量装置及具有该测量装置的剪切系统与剪切方法
200720121339 一种三维锡膏测厚仪

2008年05月公开
200710178905 硅球表面氧化层形貌测量机构
200610148560 运用光线强度判断灰尘堆积量的系统与方法
200720063631 一种用激光测厚仪测量钢包包衬厚度的定位装置

2008年04月公开
200720067317 全光纤斐索干涉共焦测量装置
200720070787 石英波片厚度的测量装置

2008年03月公开
200710147833 身体脂肪测量装置和操作该装置的方法

2008年02月公开
200710053292 一种微纳深沟槽结构测量方法及装置
200680006700 荧光检测设备
200680006219 表面结霜厚度测量探头
200580048241 在板材制造系统中测量选择组分的传感器和方法
200580048299 薄膜厚度的测量方法和设备
200720005567 一种测量冶金专用烧结台车内原料厚度的测量装置

2008年01月公开
200720089366 光学镀膜膜厚监控装置
200580047167 对微电子电路的计量表征
200710108822 不均检查装置及其方法、以及图像显示装置及其方法
200620175629 螺帽筛选机

2007年12月公开
200710038759 消光/光度兼容式自动椭偏仪和测量方法
200620140213.5 轴瓦壁厚自动分选仪的测量装置

2007年11月公开
200710097385.8 薄膜特性测量装置
200710108672.4 用于干涉式调制器的过程控制监视器
200710041787.6 石英波片厚度的测量装置和测量方法
200710122816.1 转炉激光测厚仪炉体外快速定位方法

2007年10月公开
200610076525.9 导热膏厚度的量测方法、量测系统与量测模块
200610130917.9 用于无损测定绝缘涂层的方法和装置
200610126222.3 测量玻璃基板厚度的设备

2007年09月公开
200710078193.2 光电式液体表面浮油层厚度在线测量方法和系统
200620111073.9 用于测厚仪的X-射线电源控制装置

2007年08月公开
200610143996.7 确保喷墨头喷嘴喷出的墨量一致的墨滴均一化方法
200710078266.8 光纤布拉格光栅传感器及其在线测量微生物膜厚度的方法
200580031863.4 用于测量测量目标的具有镜面装置的干涉仪
200610168573.0 界面位置测定方法及测定装置
200610003075.0 高密度多通道检测装置
200710051584.5 均匀材质透光薄板的厚度高速测量装置
200710054021.1 光学膜厚在线测量折射率的方法
200710037507.4 全光纤斐索干涉共焦测量装置
200580030097.X 利用光传播的光学定律,通过单视角光学逆光照相法测量三维物体的方法

2007年07月公开
200510112274.0 检测基板表面膜厚的方法
200510121329.4 线路板中导通孔镀铜厚度的测试方法
200520010095.1 光电式液体表面浮油层厚度在线测量系统

2007年06月公开
200620043654.3 膜层光谱的实时测量装置

2007年05月公开
200520094756.3 雪条棒侧弯检测机构和设有这种检测机构的雪条棒检选机
200610118882.7 电缆绝缘护套厚度的测量方法
200610126757.0 检查光学记录介质的方法

2007年04月公开
200510108780.2 物体尺寸量测系统及方法
200520097058.9 印刷品油墨厚度检测仪

2007年03月公开
200610127629.8 传感器及其使用该传感器的记录装置
200610126780.X 膜测定装置及方法、涂敷装置及涂敷方法

2007年02月公开
200520045365.2 测量双折射单轴晶体波片厚度的装置

2007年01月公开
200610107520.8 不均匀检查装置及不均匀检查方法

2006年12月公开
200610028625.4 膜层光谱的实时测量装置及其测量方法
200520047270.4 多光束表面等离子共振光谱仪

2006年11月公开
200610084122.9 热成像方法和设备
200610082442.0 用于在纺纱准备机械中确定纤维材料质量和/或质量波动的装置
200610026220.7 磁环图像自动检测装置

2006年10月公开
200610068377.6 不匀检查装置以及不匀检查方法
200610068379.5 不匀检查装置以及不匀检查方法

2006年08月公开
200610006957.2 薄膜检查装置以及薄膜检查方法
200610057546.6 珠宝内部结构检测方法及其装置
200520026085.7 自动椭圆偏振测厚仪

2006年07月公开
200610001281.8 温度/厚度的测量装置、测量方法、测量系统、控制系统和控制方法
200510100839.3 利用激光回馈高精度确定入射角的方法及其应用
200610023203.8 一种可以观测化学反应过程中物质形态的分析测试装置以及方法

2006年06月公开
200510127689.5 用于金属表面上的有机涂膜的厚度测量方法
200520001491.8 双光路自准直镀膜厚度光学监控装置
200520001689.6 玻璃管壁厚检测仪
200520101570.6 一种用于测量光洁面板材厚度的在线监测装置
200510129011.0 分光计测装置

2006年05月公开
200510120034.5 共焦点光学装置和球面像差校正方法

2006年04月公开
200520054113.6 带旋转支架非接触式单镜反射激光测厚装置

2006年03月公开
200510100734.8 一种光学镀膜偏振光谱监控系统
200510120244.4 光学膜层厚度均匀性的监测方法
200520053399.6 易拉罐开启口压痕残余厚度测量装置
200510021779.6 无标样测量薄膜厚度和密度的方法
200510030094.8 测量双折射单轴晶体波片厚度的方法和装置

2006年02月公开
200510028220.6 测试金刚石涂层刀具附着强度及使用寿命的测量装置

2006年01月公开
200510042863.6 单面抛光衬底外延薄膜厚度和光学参数的测量方法

2005年12月公开
200510024987.1 光学膜厚监控系统

2005年09月公开
200510051176.0 测定沉积膜厚度的方法及装置和形成材料层的方法及装置
200510050244.1 一种用于测量光洁面板材厚度的在线监测系统

2005年08月公开
200510006344.4 微机电光学显示元件的制造方法

2005年07月公开
200510013132.9 回转体壁厚测量电控系统
200510032671.7 易拉罐开启口压痕残余厚度测量装置及其测量方法